龙旗电子申请电子元件缺陷检测方法专利，解决因工艺少量偏移导致元件偏位有时不能检测出来的问题_资讯

龙旗电子申请电子元件缺陷检测方法专利，解决因工艺少量偏移导致元件偏位有时不能检测出来的问题

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2026-01-01 17:36:36

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国家知识产权局信息显示，龙旗电子（惠州）有限公司申请一项名为“一种电子元件缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121231480A，申请日期为2024年4月。

专利摘要显示，本发明涉及工业自动化机器视觉技术领域，公开了一种电子元件缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，本发明直接结合PCB板的初始深度信息集和基平面的深度信息集建立掩膜感兴趣区域，能够更方便快捷地得到PCB板内所有电子元件的检测区域。进一步，通过获取PCB板的网格浮动深度信息集进行缺陷检测，可以解决宽容度问题，进而解决了因为工艺少量偏移导致元件偏位有时不能检测出来的问题。因此，通过实施本发明，可以方便、快速地实现电子元件的缺陷检测。

天眼查资料显示，龙旗电子（惠州）有限公司，成立于2009年，位于惠州市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本60000万人民币。通过天眼查大数据分析，龙旗电子（惠州）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目93次，专利信息242条，此外企业还拥有行政许可270个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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