国微电子申请测试向量生成方法专利，测试向量开发效率得到极大提升_资讯

国微电子申请测试向量生成方法专利，测试向量开发效率得到极大提升

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2025-12-31 10:39:16

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国家知识产权局信息显示，深圳市国微电子有限公司申请一项名为“测试向量的生成方法、装置及电子设备”的专利，公开号CN121233414A，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本公开实施例公开了一种测试向量的生成方法、装置以及电子设备，涉及数据处理技术领域，该方法包括：获取待测芯片扫描SCAN测试所需的标准测试接口语言STIL文件和配置文件；提取所述STIL文件中的测试信息，以及提取所述配置文件中的配置信息；基于所述配置信息，对所述测试信息进行格式化处理，以使得所述测试信息符合SCAN标准测试协议；对格式化处理后的所述测试信息进行转换，以生成测试向量。由此，不需要EDA仿真工具的参与即可实现从STIL文件到测试向量文件的转换，测试向量开发的效率得到极大提升。进一步的，通过配置数据，精简最终输出的测试向量，降低存储资源的占用及调试难度。

天眼查资料显示，深圳市国微电子有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市国微电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目662次，专利信息301条，此外企业还拥有行政许可13个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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