米飞泰克申请芯片测试方法专利，能够对芯片测试进行误差校正_资讯

米飞泰克申请芯片测试方法专利，能够对芯片测试进行误差校正

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2025-12-30 21:09:56

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国家知识产权局信息显示，深圳米飞泰克科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试方法、系统、计算机设备及存储介质”的专利，公开号CN121231981A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请适用于芯片测试领域，提供一种芯片测试方法、系统、计算机设备及存储介质，其中方法包括：依照芯片测试项，在探针卡中的探针不与晶圆上的芯片接触的情况下执行测试处理，得到所述探针卡中每个工位的第一测试结果，并记录于所述存储器中，在所述探针卡中的探针与晶圆上的芯片接触的情况下执行测试处理，得到各个所述工位的第二测试结果，基于第一测试结果，对相应工位的第二测试结果进行校正，得到晶圆上芯片的电性接触测试结果。该方案能够对芯片测试进行误差校正。

天眼查资料显示，深圳米飞泰克科技股份有限公司，成立于2018年，位于深圳市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本19185.8344万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳米飞泰克科技股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目21次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息132条，此外企业还拥有行政许可66个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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