豪威半导体申请具有测试元件组的半导体器件及其测试方法专利，可有效区分若干芯片来源或芯片位置_资讯

豪威半导体申请具有测试元件组的半导体器件及其测试方法专利，可有效区分若干芯片来源或芯片位置

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2025-12-26 12:09:28

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国家知识产权局信息显示，豪威半导体（上海）有限责任公司申请一项名为“具有测试元件组的半导体器件及其测试方法”的专利，公开号CN121208588A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明提供一种具有测试元件组的半导体器件及其测试方法，衬底上的划片槽内设置有测试元件组；测试元件组邻近的N个芯片共用测试元件组，N≥2；测试元件组中设置有测试电路，测试电路包含相位译码器。本发明为基于相位识别的若干芯片共享测试元件组，可有效区分若干芯片来源或芯片位置；测试电路根据接收的相位信号选择N个芯片中的对应一个芯片使用测试元件组进行测试，采用动态识别与选择机制。简化探针卡，有利降低探针卡维护成本。减少测试垫数量、减少晶圆面积浪费、提升测试效率、晶圆测试后随切割道自动移除测试电路。测试电路不占用芯片内部空间，降低测试时间，减少封装后干扰与功耗风险。

天眼查资料显示，豪威半导体（上海）有限责任公司，成立于2001年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本38300万美元。通过天眼查大数据分析，豪威半导体（上海）有限责任公司参与招投标项目42次，专利信息94条，此外企业还拥有行政许可124个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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