视旗科技申请集成电路缺陷分析方法及系统专利，解决电路板E-test场景中难以追溯根因的问题_资讯

视旗科技申请集成电路缺陷分析方法及系统专利，解决电路板E-test场景中难以追溯根因的问题

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2025-12-08 17:37:29

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国家知识产权局信息显示，视旗科技（深圳）有限公司申请一项名为“一种集成电路缺陷分析方法及系统”的专利，公开号CN121071600A，申请日期为2025年8月。专利摘要显示，本发明涉及电路板分析技术领域，具体涉及一种集成电路缺陷分析方法及系统，方法包括：从集成电路制造的大数据平台中提取和筛选目标产品的E-test测试数据；对筛选后的E-test测试数据进行缺陷分类建模处理；根据每个候选E-test测试项的分类准确率和相关性度量值计算缺陷相关性指标；基于关键测试项的逻辑回归分类器结果确定缺陷判定阈值和缺陷相关的数值分布方向，生成对应每片拼板的二值化缺陷分布图；计算坏拼板图与每一良拼板图之间的图像相似度；判断图像相似度是否高于预设阈值，并将良拼板图的拼板加入虚拟坏拼板列表；基于虚拟坏拼板列表，对虚拟坏拼板与原始缺陷拼板的制造工艺流程数据进行分析比对，确定引发缺陷的潜在根因。本发明可以解决解决电路板E-test场景中缺陷样本极少、类别极度失衡、经验阈值难以设定且难以追溯根因的问题。

天眼查资料显示，视旗科技（深圳）有限公司，成立于2018年，位于深圳市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，视旗科技（深圳）有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息3条，专利信息19条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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