龙芯中科南京申请高密度芯片测试设备和电子设备专利，有效降低芯片老化和老炼测试所需成本_资讯

龙芯中科南京申请高密度芯片测试设备和电子设备专利，有效降低芯片老化和老炼测试所需成本

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2025-12-08 10:39:49

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国家知识产权局信息显示，龙芯中科（南京）技术有限公司申请一项名为“一种高密度芯片测试设备和电子设备”的专利，公开号CN121069156A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请公开一种高密度芯片测试设备和电子设备，涉及芯片测试领域。限位框、PCB板、支撑框架从上到下布设并固定连接。阻容物料与PCB板的焊盘电连接；限位框开设有多个凹槽，每个凹槽被配置为放置待测试芯片，且待测试芯片的管脚与PCB板的焊盘电连接；盖板与基础结构在测试期间固定连接，且在固定连接时盖板将待测试芯片压实在凹槽中。本申请很好的应用于芯片老化和老炼测试等环境中，不使用传统的芯片夹具，测试密度高，有效降低芯片老化和老炼测试所需成本。而随着高质量芯片的需求量逐年递增，芯片质量要求不断提升，很好的优化高质量芯片的老化和老炼测试，降低测试成本成，为提升芯片设计厂商的产品竞争力提供有效途径。

天眼查资料显示，龙芯中科（南京）技术有限公司，成立于2019年，位于南京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，龙芯中科（南京）技术有限公司参与招投标项目4次，专利信息37条，此外企业还拥有行政许可6个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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