华虹宏力申请电源上电检测电路专利，减少芯片面积_资讯

华虹宏力申请电源上电检测电路专利，减少芯片面积

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2025-12-04 20:37:46

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国家知识产权局信息显示，上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“电源上电检测电路”的专利，公开号CN 121049569 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明公开了一种电源上电检测电路，包括：电流镜电路，包括互为镜像的第一和第二电流路径，第一和第二电流路径在电源上电过程中导通且在导通时通过第一节点输出第一偏置电压，第一偏置电压为第一和第二电流路径中2个以上的NMOS管的栅源电压的和。第一CMOS反相器，输入端连接第一偏置电压，电源端连接电源电压以及接地端接地；电源电压和第一偏置电压之间具有第一电压差，在电源上电过程中第一电压差逐渐增加，当第一电压差增加到大于第一CMOS反相器的上PMOS管的栅源电压时，第一CMOS反相器翻转并在输出端输出第一检测信号。本发明能减少芯片面积并同时降低功耗。

天眼查资料显示，上海华虹宏力半导体制造有限公司，成立于2013年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2046092.7759万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华虹宏力半导体制造有限公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目928次，财产线索方面有商标信息39条，专利信息5000条，此外企业还拥有行政许可429个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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