成都海光集成取得芯片老化测试装置专利，节省芯片老化测试装置占用的空间
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2025-12-02 14:10:26
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国家知识产权局信息显示，成都海光集成电路设计有限公司取得一项名为“芯片老化测试装置”的专利，授权公告号CN223611649U，申请日期为2024年12月。专利摘要显示，本实用新型提供一种芯片老化测试装置，芯片老化测试装置包括：主板、老化测试系统和BMC；老化测试系统和BMC设置于主板上并通过主板电连接，BMC控制芯片老化测试系统将芯片本体设为老化测试环境。本实用新型能够节省芯片老化测试装置占用的空间。
天眼查资料显示，成都海光集成电路设计有限公司，成立于2016年，位于成都市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本29285.7143万美元。通过天眼查大数据分析，成都海光集成电路设计有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目7次，专利信息328条，此外企业还拥有行政许可6个。
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来源：市场资讯
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