立芯光电取得晶圆表面缺陷检测治具专利，解决检验晶圆污染、划伤的技术问题_资讯

立芯光电取得晶圆表面缺陷检测治具专利，解决检验晶圆污染、划伤的技术问题

创始人

2025-11-29 14:12:07

0次

国家知识产权局信息显示，西安立芯光电科技有限公司取得一项名为“一种用于晶圆表面缺陷检测的治具”的专利，授权公告号CN223597552U，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种用于晶圆表面缺陷检测的治具，属于晶圆表面缺陷检测技术领域，解决了检验晶圆污染、划伤的技术问题，其包括底座、上盖。底座置于显微镜平台上，待检验晶圆置于底座上侧，上盖置于待检验晶圆上侧。底座未有刻度标识，上盖设置巴排镂空。本实用新型用于晶圆表面缺陷检测。

天眼查资料显示，西安立芯光电科技有限公司，成立于2012年，位于西安市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本19741.4159万人民币。通过天眼查大数据分析，西安立芯光电科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目35次，财产线索方面有商标信息15条，专利信息70条，此外企业还拥有行政许可14个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业检验缺陷投资检测底座表面西安专利污染西安市天眼晶圆

上一篇：长沙矿冶研究院申请多源异构时序数据压缩及电机故障预测方法与系统专利，在保留关键故障特征的前提下解决工业场景多源异构传感器数据融合技术难题

下一篇：武汉华星光电取得显示面板、制作方法及显示装置专利

立芯光电取得晶圆表面缺陷检测治具专利，解决检验晶圆污染、划伤的技术问题

相关内容

热门资讯