正和微芯申请芯片量产测试方法等相关专利，提升芯片产测的效率_资讯

正和微芯申请芯片量产测试方法等相关专利，提升芯片产测的效率

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2025-11-28 21:10:10

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国家知识产权局信息显示，珠海正和微芯科技有限公司申请一项名为“芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备”的专利，公开号CN121027807A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本申请公开了一种芯片量产测试方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该芯片量产测试方法包括定义测试区间，测试区间包括至少一个子测试区间；从同一批次且属于相同corner的芯片集合中选取若干芯片作为观测样本，其余芯片作为测试对象；分别在子测试区间的起点和终点读取观测样本的温度传感器的温度数字码值，得到起点码和终点码；根据起点码和终点码得到第一温度变化量；基于第一温度变化量计算参考值和偏差阈值；获取每个测试对象在子测试区间的起点码和终点码得到第二温度变化量；计算第二温度变化量与参考值的偏差，根据该偏差与偏差阈值的比较确定测试对象是否合格。本申请实施例可以提升芯片产测的效率。

天眼查资料显示，珠海正和微芯科技有限公司，成立于2020年，位于珠海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本3013.5486万人民币。通过天眼查大数据分析，珠海正和微芯科技有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息56条，此外企业还拥有行政许可20个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资起点偏差相关测试芯片珠海微芯专利区间终点码

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