在电子元器件制造领域，电容器的可靠性与耐久性直接影响整个电子设备的寿命与稳定性。为满足市场对高品质电容器的检测需求，JAY-5287X 电容器耐久性试验台应运而生。该设备是一款集数字控制、高频输出、多模组适配于一体的高性能测试平台，广泛应用于电容器的研发、质检与寿命评估环节。

一、技术领先，数字控制为核心

JAY-5287X 采用先进的FPGA+STM32双核控制系统，结合DDS（直接数字频率合成）技术，实现频率范围1kHz~2.62kHz的精准输出。通过7寸真彩触摸屏，用户可直观设置参数、监控实时数据，操作简便、响应迅捷。无论是高频高压还是高频大电流测试，该设备均能提供稳定、低失真的正弦波输出，确保测试结果的准确性与重复性。

二、功率放大技术，保障波形纯净

设备采用功率管线性放大技术，具备动态响应快、失真度小（≤5%）、灵活性高等优势。配合耦合隔离器，输出波形纯净，适用于各类容性负载的耐久性测试。无论是电解电容、薄膜电容还是超级电容，JAY-5287X 都能提供可靠的测试环境，模拟真实工作状态下的电气应力。

三、多重保护，安全可靠

试验台内置过压、过流、过温等多重保护机制，确保设备在长时间运行中的安全性与稳定性。支持0~9999小时的可设定试验时间，时间到自动停止，无需人工值守，大幅提升测试效率。

四、应用场景广泛，适用于多种电容类型

JAY-5287X 不仅适用于常规电容器的老化测试，还可用于高频、高纹波电流等极端工况下的耐久性验证。是电容器生产企业、质检机构、科研单位的理想选择。

JAY-5287X 电容器耐久性试验台以其高精度、高稳定性和智能化操作，为电容器行业提供了一款值得信赖的测试利器。选择JAY-5287X，就是选择品质的保障与技术的领先。