上海集成电路研发中心申请传感器检测方法专利，降低了电磁干扰的检测成本_资讯

上海集成电路研发中心申请传感器检测方法专利，降低了电磁干扰的检测成本

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2026-06-24 16:30:06

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国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“传感器检测方法、装置、霍尔传感器、介质及产品”的专利，公开号CN122260198A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种传感器检测方法、装置、霍尔传感器、介质及产品，该方法包括：检测霍尔传感器所产生的当前待处理信号对应的计数值是否大于计数阈值；若当前的计数值大于计数阈值，则判定霍尔传感器存在电磁干扰；其中，计数值表征待处理信号的信号翻转次数，若当前的计数值不大于计数阈值且当待处理信号的任一周期中的信号值大于该周期的信号转换阈值时计数值被归零，若计数值因未被归零而增大超过计数阈值，表明转换阈值因电磁干扰而异常增大。本申请的方案，通过信号处理的方式检测电磁干扰，无需设置电磁干扰检测硬件，降低了电磁干扰的检测成本。

天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目301次，财产线索方面有商标信息108条，专利信息2217条，此外企业还拥有行政许可88个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资霍尔待处理检测阈值传感器信号集成电路专利电磁计数值霍尔传感器

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