中芯国际申请半导体结构及其形成方法专利,提高了耗尽区域中电场分布的均匀性
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2026-03-06 11:28:26
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国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(天津)有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法、电子设备”的专利,公开号CN121619907A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本发明公开了一种半导体结构及其形成方法、电子设备,所述半导体结构包括衬底、位于所述衬底上的深P型阱以及第一深N型阱;所述深P型阱设置于所述衬底上的部分区域,所述第一深N型阱设置于所述衬底上的另一部分区域;所述深P型阱的纵向高度大于所述第一深N型阱的纵向高度;以及位于所述第一深N型阱上的多个浮置P型结构;所述多个浮置P型结构依次间隔分布于所述第一深N型阱上;所述多个浮置P型结构各自对应的横向尺寸沿目标方向依次减小,位于所述多个浮置P型结构上的第二深N型阱。本发明提高了耗尽区域中电场分布的均匀性,可以有效防止半导体结构出现局部击穿的情况。

天眼查资料显示,中芯国际集成电路制造(天津)有限公司,成立于2003年,位于天津市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本129000万。通过天眼查大数据分析,中芯国际集成电路制造(天津)有限公司参与招投标项目106次,专利信息403条,此外企业还拥有行政许可293个。

中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,成立于2000年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元。通过天眼查大数据分析,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目118次,财产线索方面有商标信息153条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可447个。

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来源:市场资讯

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