国家知识产权局信息显示,爱思开海力士有限公司申请一项名为“半导体存储器装置和制造半导体存储器装置的方法”的专利,公开号CN121604421A,申请日期为2025年4月。
专利摘要显示,本文可以提供半导体存储器装置和制造半导体存储器装置的方法。半导体存储器装置包括:栅极层叠体;在栅极层叠体上方的第一半导体层;在第一半导体层和栅极层叠体之间的源极绝缘结构;接触源极层,其设置在源极绝缘结构和栅极层叠体之间;沟道结构,其穿透栅极层叠体并且与接触源极层接触;在栅极层叠体和沟道结构之间的存储器层;以及源极接触结构,其联接到接触源极层并且延伸以穿透源极绝缘结构和第一半导体层。
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来源:市场资讯