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伟智半导体取得多光源3D/AOI快速检测装置专利，实现了对物体表面特征的清晰展现

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2026-02-28 17:43:10

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国家知识产权局信息显示，深圳市伟智半导体有限公司取得一项名为“多光源3D/AOI快速检测装置”的专利，授权公告号CN223955462U，申请日期为2025年2月。

专利摘要显示，本实用新型公开了多光源3D/AOI快速检测装置，涉及产品质量检测技术领域。本实用新型包括检测平台，以及与检测平台适配安装的检测组件；检测平台上侧设置用于待测物体安装的定位组件；所述检测组件包括用于提供均匀光照的平面光源、用于突出表面特征的斜射光源、设置于检测平台斜上方的图像采集单元；所述检测组件经内部导线连接有控制系统，其所述控制系统，所述控制系统包括三维重建模组、经内部局域网与三维重建模组相连的缺陷分析模组，以及用于数据存储的储存模组。本实用新型通过设置平面光源和斜射光源相结合，实现了对物体表面特征的清晰展现，定位组件确保待检测物体在检测过程中的精确定位和灵活转动，适应不同形状和尺寸的物体检测需求。

天眼查资料显示，深圳市伟智半导体有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市伟智半导体有限公司参与招投标项目12次，专利信息8条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

伟智物体检测深圳市装置表面导体光源组件专利模组

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