真芯半导体取得存储器芯片失效单元高效检测修复专利_资讯

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2026-02-17 13:41:54

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国家知识产权局信息显示，真芯（北京）半导体有限责任公司取得一项名为“存储器芯片的失效单元检测修复方法”的专利，授权公告号CN115083497B，申请日期为2021年3月。

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来源：市场资讯

市场投资单元检测芯片存储器导体真芯专利北京公告号

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