ASM IP申请填充衬底表面间隙专利,形成碳膜优化半导体制造工艺
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2026-01-21 11:11:44
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国家知识产权局信息显示,ASM IP私人控股有限公司申请一项名为“填充衬底表面上的间隙的方法”的专利,公开号CN121344555A,申请日期为2025年7月。

专利摘要显示,提供了一种填充衬底表面上的间隙的方法。该方法可以包括以下步骤:(a)将衬底放置在反应室内的基座上,衬底包括间隙;(b)沉积步骤,包括:使碳前体流入反应室;其中碳前体的化学式包括:具有包含C、H和N的环状结构的环状化合物;羰基;和甲基、乙基、丙基、丁基、胺基和/或羟基中的至少一种;并且将碳前体暴露于等离子体,其中碳前体反应以形成第一沉积材料;以及(c)处理步骤,包括:将第一沉积材料暴露于沉积后处理,以使第一沉积材料在间隙内流动以形成碳膜。

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来源:市场资讯

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