国家知识产权局信息显示,极芯拓方技术(上海)有限公司申请一项名为“一种测试电路和存储器”的专利,公开号CN121354648A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本公开实施例提供了一种测试电路和存储器,该测试电路包括错误记录电路和测试核心电路;错误记录电路位于存储器的物理接口区域,测试核心电路位于存储器的其它区域;测试核心电路,用于存储至少一个被测地址信号;测试核心电路,还用于接收错误地址指示信号,将错误地址指示信号对应的被测地址信号输出;错误地址指示信号对应的被测地址信号为错误地址信号;错误记录电路,用于记录错误地址指示信号;错误记录电路,还用于将错误地址指示信号发送给测试核心电路。本公开实施例能够节约物理接口区域的面积,降低物理接口区域的设计难度。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯