新美光申请半导体刻蚀优化控制方法专利,提高刻蚀控制柜的控制精度和控制效率
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2026-01-19 11:39:35
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国家知识产权局信息显示,新美光(苏州)半导体科技有限公司申请一项名为“一种半导体刻蚀的优化控制方法和刻蚀控制柜”的专利,公开号CN121358189A,申请日期为2025年12月。

专利摘要显示,本申请提供了一种半导体刻蚀的优化控制方法和刻蚀控制柜,该方法包括构建至少两个级联的第一类残差模块、第一刻蚀误差预测模块,根据原始特征图产生第一刻蚀误差预测结果;构建增强图像获取模块、至少两个级联的第二类残差模块、第二刻蚀误差预测模块,根据增强特征图产生第二刻蚀误差预测结果;构建刻蚀误差加权模块,产生刻蚀误差预测结果;构建刻蚀参数自适应调节模块,根据刻蚀误差预测结果进行刻蚀控制。本申请能够自适应地快速、准确得调节刻蚀参数,提高刻蚀控制柜的控制精度和控制效率,满足先进制程对刻蚀精度和效率的需求。

天眼查资料显示,新美光(苏州)半导体科技有限公司,成立于2013年,位于苏州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1049.9858万人民币。通过天眼查大数据分析,新美光(苏州)半导体科技有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目29次,财产线索方面有商标信息27条,专利信息80条,此外企业还拥有行政许可17个。

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来源:市场资讯

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