为旌科技申请芯片失效模块定位方法专利，实现对芯片失效模块的精确且迅速定位_资讯

为旌科技申请芯片失效模块定位方法专利，实现对芯片失效模块的精确且迅速定位

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2026-01-07 11:09:31

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国家知识产权局信息显示，上海为旌科技有限公司申请一项名为“芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质”的专利，公开号CN121277745A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请提出了一种芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质。本申请从芯片的测试数据中解析出测试项、信号名称及模块的信息，并创建嵌套字典，通过该嵌套字典定义了在测试项下信号名称与模块之间的映射关系，然后从测试数据中解析出指定类型的数据，即FTR数据和PMR数据，并从所述指定类型的数据中得到信号数字索引，继而根据信号数字索引得到对应的失效信号名称，最后根据嵌套字典的映射关系得到失效信号名称对应的失效模块。基于此，本申请基于FTR和PMR这两个指定类型的数据，可以实现对芯片失效模块的精确且迅速定位，同时不会额外增加测试时间和测试成本。

天眼查资料显示，上海为旌科技有限公司，成立于2020年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本803.0483万人民币。通过天眼查大数据分析，上海为旌科技有限公司共对外投资了8家企业，财产线索方面有商标信息54条，专利信息50条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据投资定位芯片名称字典模块信号专利嵌套

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