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宁波晶创申请晶振芯片测试方法专利，提高晶振芯片的检测精度和准确度

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2025-12-26 20:10:24

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国家知识产权局信息显示，宁波晶创科技有限公司申请一项名为“一种晶振芯片测试方法”的专利，公开号CN121208602A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明涉及一种晶振芯片测试方法，包括以下步骤：构建晶振芯片的数字孪生模型，并在其中插入扫描链；将扫描链的扫描输出和晶振的电信号融合成为多维晶振特征；通过扫描链对所述数字孪生模型注入正常样本，获得无故障情况下的所述多维晶振特征作为训练数据，训练过完备字典；通过扫描链对所述数字孪生模型注入故障样本，获得不同故障类型下的所述多维晶振特征，进而利用过完备字典计算出每个故障类型对应的重构误差作为故障指纹；对所述晶振芯片进行扫描测试，根据测试得到的所述多维晶振特征利用过完备字典计算出重构误差，进而将实测的重构误差与所述故障指纹进行比对获得芯片测试结果。本发明能够提高晶振芯片的检测精度和准确度。

天眼查资料显示，宁波晶创科技有限公司，成立于2020年，位于宁波市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，宁波晶创科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目30次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息51条，此外企业还拥有行政许可11个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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