乾益电子申请集成电路功耗测试系统及方法专利，实现集成电路功耗分布的高精度实时测量_资讯

乾益电子申请集成电路功耗测试系统及方法专利，实现集成电路功耗分布的高精度实时测量

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2025-11-28 18:37:46

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国家知识产权局信息显示，深圳市乾益电子科技有限公司申请一项名为“集成电路功耗测试系统及方法”的专利，公开号CN121027782A，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本发明涉及集成电路功耗测试技术领域，尤其涉及一种集成电路功耗测试系统及方法。所述方法包括以下步骤：对集成电路设定动态采样控制策略；基于动态采样控制策略对集成电路执行脉冲测试，并进行IR Drop分布计算，生成局部功耗电压标定格点；根据局部功耗电压标定格点动态分析瞬时功耗分量空间热图，并进行温度场热演化处理，生成动态耦合温度稳定场数据；通过局部功耗电压标定格点以及瞬时功耗分量空间热图评估电迁移原始风险指数，并进行互连线风险状态映射，得到集成电路风险图谱。本发明实现集成电路功耗分布的高精度实时测量，基于有源区与无源区差异化处理策略以准确评估集成电路中热点区域与电迁移风险。

天眼查资料显示，深圳市乾益电子科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市乾益电子科技有限公司专利信息37条，此外企业还拥有行政许可13个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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