迈德迩半导体申请一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统专利，提升对复杂模式下NAND芯片性能波动及时序异常的捕获能力_资讯

迈德迩半导体申请一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统专利，提升对复杂模式下NAND芯片性能波动及时序异常的捕获能力

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2025-11-24 11:38:03

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国家知识产权局信息显示，深圳市迈德迩半导体有限公司申请一项名为“一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统”的专利，公开号CN 120994614 A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明涉及存储芯片测试技术领域，具体为一种多模式耦合的NAND存储芯片测试系统，系统包括忙信号采集模块、模式切换控制模块、驻留时间判定模块、异常片段归档模块、片段标签管理模块。本发明中，通过对信号占空比的统计与时间索引的结合实现对状态的精确捕捉，在电平由高到低的转换瞬间记录时序参数并形成模式切换标记，使不同测试模式下的时间序列被完整追踪，对高电平驻留时间的累加识别潜在异常区间并在归档阶段将时间区间与模式标识进行关联和时序容限分离，使异常片段得到连续独立归档并附带可追溯时间标签，实现对潜在异常行为的及时识别与记录，提升对复杂模式下NAND芯片性能波动及时序异常的捕获能力，增强测试数据的完整性与可追溯性。

天眼查资料显示，深圳市迈德迩半导体有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市迈德迩半导体有限公司共对外投资了2家企业，财产线索方面有商标信息3条，专利信息17条，此外企业还拥有行政许可1个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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